Dos expertos en Tecnología Forense del Netherlands Forensic Institute de Holanda, participarán este martes 7 de junio en el país, en un conversatorio sobre “Balística Forense” donde compartirán sus experiencias en cuanto a la “Adquisición Objetiva y Comparación de Estrías en 3D”.
El evento patrocinado por el Laboratorio Balístico y Biométrico del Sistema Nacional de Armas (SISNA), tendrá lugar en el Aula de Estudios Criminalísticos doctor Samuel de Moya Polanco, de la Facultad de Ciencias Jurídicas de la Universidad Autónoma de Santo Domingo (UASD).
Los expertos holandeses Renés Pieterman y Martin Baiker, expondrán sobre el uso de las tecnologías para la comparación y validación de las piezas balísticas como evidencia.
De igual forma expondrán sobre las posibilidades de superar algunas de las limitaciones de la tecnología 2D microscópica de comparación y facilitar que el trabajo de investigaciones sea cada día más objetivo y eficaz.
Andrés Grullón, director operativo del Laboratorio Balístico y Biométrico, explicó en un comunicado que “vamos a demostrar el principio de aplicación práctica de una tecnología de adquisición de superficie 3D sin contacto, focus variable, que permita medir piezas de evidencia objetiva, en gran medida, independiente de la forma de la muestra y en muy alta resolución”.
Agregó que también mostrarán cómo los datos 3D de las marcas pueden ser estudiados y comparados para establecer las características adicionales que están disponibles en comparación con la microscopía 2D usando un computador con un microscopio de comparación virtual.
Destacó que los expertos holandeses también presentarán un método objetivo para la comparación automatizada de marcas estriadas completas o parciales, así como el cálculo de las razones de probabilidad y la tasa de error para las aplicaciones en forenses.
